Темнопольную микроскопию используют для выявления контуров прозрачных или малоконтрастных включений. Здесь блокируется прямой проходящий свет и камень освещается только сбоку. Этот боковой свет отражается и рассеивается включениями, что делает их особенно заметными. На темном фоне создается яркое изображение. Наблюдая за включениями, можно определить местонахождение, определить качество камня и идентифицировать подделки или обработанные камни.

Практические примеры того, как сапфиры анализируют с помощью микроскопии в темном поле или как наблюдают кристаллизованные рутиловые иглы, можно найти в прикладной статье: Определение местонахождений с помощью стереомикроскопов.

Существует также практический совет для просмотра включений с помощью стереомикроскопа (микроскопия в светлом поле). В статье «Методы микроскопии» вы найдете справочную информацию об исследованиях с помощью стереомикроскопов и микроскопии с иммерсионной жидкостью.