Используя специальное полузеркало (патент обрабатывается), это устройство может отсекать отраженный свет с обратной стороны и обеспечивать высокую точность измерения.

Он может измерять искривленную поверхность любой линзы, а также неровное покрытие. (минимальное пятно, сфокусированное на образце, составляет ø50 мкм)

С помощью встроенного 512-элементного КПК, 16-битного АЦП, интерфейса USB 2.0.

Диаграмма цветности, L*a*b измерима.

Для однослойного покрытия доступны бесконтактные измерения и неразрушающие измерения.

Спецификация

Кот. Нет. МСП-100

Диапазон измерения длины волны 380 ~ 1050 нм

Точность измерения Воспроизводимость ±0,2 % (380–450 нм)

±0,02 % (451–950 нм)

±0,2 % (951–1050 нм)

NA образца NA 0,12 (при использовании 10-кратного объектива)

Диапазон измерения длины волны ø50 мкм (при использовании 10-кратного объектива)

Радиус кривизны образца -1 R ~ -∞, +1 R ~ ∞

Разрешение дисплея 1 нм

Измерение времени В течение 10 секунд (зависит от времени выборки)

Внешние размеры(Основной корпус) (Ш) 230 x (В) 560 x (Г) 460 мм (основной корпус)

Ограничение рабочей температуры 18 ~ 28 ˚C

Используемая влажность 60 % или меньше (без конденсации)